武汉聚合光子领军国产化突围：激光/通信/传感光纤测试打破欧美垄断

光纤预制棒折射率测试仪（PRIP-80）可以对预制棒不同位置的折射率分布进行高速、自动测量，其测量原理是采用在光纤行业广泛使用的光束偏转测量法，通过对入射光线的折射角轨迹追迹计算出折射率的变化量。PRIP-80可以测量光纤预制棒的折射率分布，并集成了几何测试功能，可提供包括相对折射率、等效折射率、包层和芯层直径、不圆度、同心度误差等指标的测试结果。 

光纤剖面分析仪（RIP-100）采用全息干涉法对光纤的折射率分布进行高速、自动测量，可以测量光纤的折射率分布，并集成了几何测试功能，可提供包括相对折射率、等效折射率、包层和芯层直径、不圆度、同心度误差等指标的测试结果。

-二维重建测试时长3分钟以内，测试效率较同类型产品大幅提高。综合测试时间（样品准备时间+测试时间）与基于端面图像的其他几种光纤折射率测试设备相当。

-保偏光纤纤芯结果优化。通过专门开发的算法消除应力区对纤芯折射率的影响，实测折射率二维分布以及NA值与设计值更接近。

-纤芯结果优化。可在数据层自动与RIP-E600联用，交叉校验折射率数据从而提高对纤芯复杂结构的测试准确性。

光纤剖面分析仪（RIP-E600）采用反转折射近场法的光路对光纤的折射率分布进行高速、自动测量，其基于经过特殊照明光场照明的光纤端面图像灰度分析方法测试光纤的折射率分布，并集成了几何测试功能，可提供包括相对折射率、等效折射率、包层和芯层直径、不圆度、同心度误差等指标的测试结果。

-直接输出二维折射率分布结果。
-由于原理上的限制，其二维折射率测试不适用于带有全内反射增强设计的泵浦光纤；其一维折射率测试结果不适用于分析非圆对称光纤。
-对于近似圆对称结构的纤芯测试效果优于RIP-100。
-可与RIP-100联用，专门用于增强对各类型光纤纤芯细节的分析能力。

测试结果图像

包层几何参数测试仪（CLA-600）可用于测量各种类型光纤的几何参数，其测量原理是采用IEC国际标准中的基准法（视频灰度法）并结合特殊设计的明场照明和包层模注入方式，获取高对比度的包层截面图像。除常用的包层直径、纤芯直径、同心度误差、不圆度等参数外，通过灵活的图像处理接口，CLA-600可持续升级并提供保偏光纤纤芯、应力区，有源光纤八边形、圆内接八边形、多芯光纤、空芯光纤等专用几何分析模板。

CLA-600按视场大小分为两个可选型号，其中80μm-600μm规格适用于通信光纤及特种光纤，600μm-1200μm规格适用于各类型大直径光纤的测试。

光纤涂覆层测试仪（COA-600）是全自动光纤涂覆层几何参数测试设备，其测量原理是采用IEC国际标准中的基准法（侧视光分布法）。通过精细的照明光场设计和图像分析算法设计，可精确测量光纤的外涂覆层直径、内涂敷层直径、同心度误差、外层不圆度、内层不圆度等指标，适用于特种光纤的出厂检测、制作过程检测以及光纤入库检验等工序。

光纤涂覆层测试仪按测试光纤的外直径分为两个型号，其中COA-600可提供更好的光纤承托效果，适用于80μm-250μm规格外径的光纤。COA-610直上直下的样品插入方式可实现更高的测试效率，适用于250~700µm（最大直径可定制到1200µm）的特种光纤测试。

光纤传输衰减损耗测试系统（ATT-1800）是为行业用户定制开发的衰耗/吸收损耗测试系统，其内部集成了空间光注入系统，机器视觉辅助对焦，空间光调制，光电转换和弱信号处理系统。其特殊设计的旁路对焦系统可同时测量光纤的几何参数，简化了用户的测试准备工作，提高了测试效率。

光纤传输衰减损耗测试系统采用可兼容的光源输入光路设计，在出厂前可由用户指定光源类型，既可以使用成本低，稳定性好，工作带宽大的卤素灯宽谱光源，也可以使用单色性好，功率谱密度高的白光超连续谱光源。

（1）测量特种保偏光纤损耗、模场直径、数值孔径、⼏何形状等参数；测试波⻓范围覆盖900nm~1800nm

（2）光纤尺寸范围覆盖80~600微米（内包层），可测量最小纤芯尺寸5微米；

（3）测量多种特种光纤⼏何形状，包含但不限于有源、无源、单模、多模、非偏、保偏、多芯、微结构光纤等；

（4）具备测试纤芯/包层直径、同心度、不圆度、保偏熊猫眼直径与距离、纤芯与熊猫眼同线度等参数的功能。